靜電抗擾度測(cè)試的測(cè)試要求之測(cè)試目的
靜電放電可能引起電場(chǎng)磁場(chǎng)的變化，造成設(shè)備誤動(dòng)作，也可能會(huì)通過能量交換引起半導(dǎo)體器件的損壞。因此本試驗(yàn)旨在通過模擬操作人員或物體在接觸EUT時(shí)的放電來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品的靜電放電抗擾度能力。
靜電抗擾度測(cè)試的測(cè)試要求之測(cè)試依據(jù)
1、用戶文檔
測(cè)試依據(jù)的用戶文檔主要有以下三個(gè)：《產(chǎn)品技術(shù)要求》和/或《需求映射表》 、《產(chǎn)品包需求》可測(cè)試性需求、《整體測(cè)試方案》
2、測(cè)試技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范
GB/T18268.1-2010 測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用的電設(shè)備電磁兼容性要求第1部分：通用要求
GB17626.2-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)
GB/T4365-2003 電工術(shù)語(yǔ) 電磁兼容
靜電抗擾度測(cè)試的測(cè)試要求之評(píng)判標(biāo)準(zhǔn)
評(píng)判結(jié)果分為以下四類
1 在廠家或用戶規(guī)定的技術(shù)范圍內(nèi)性能正常。
2 功能或性能暫時(shí)降低，但在騷擾停止后EUT能自行恢復(fù)，無(wú)需操作者干預(yù)。
3 功能暫時(shí)喪失或性能暫時(shí)降低，但需操作者干預(yù)才能恢復(fù)正常。
4 因硬件或軟件損壞，或數(shù)據(jù)丟失而造成不能自行恢復(fù)至正常狀態(tài)的功能降低或喪失。
其中，1&2兩項(xiàng)為可接受結(jié)果，3&4兩項(xiàng)為不可接受結(jié)果。
